塑料(liao)尼龍拖(tuo)鏈的故(gu)障(zhang)檢測標準(zhun)
點(dian)擊(ji)次數(shu):2637 更(geng)新時(shi)間:2018-05-22
塑料(liao)尼龍拖(tuo)鏈適(shi)合(he)於使(shi)用在往復運(yun)動的場合(he),能夠對內置(zhi)的電纜、油(you)管、氣(qi)管、水(shui)管等(deng)起(qi)到(dao)牽(qian)引(yin)和(he)保護(hu)作(zuo)用,型(xing)尼龍坦(tan)克鏈每(mei)節都能(neng)打開,便(bian)於(yu)安裝和(he)維(wei)修(xiu)。塑料(liao)尼龍拖(tuo)鏈運(yun)動時(shi)噪音低(di)、耐(nai)磨(mo)、可高(gao)速(su)運(yun)動。塑料(liao)尼龍拖(tuo)鏈已被(bei)廣泛(fan)應(ying)用(yong)於(yu)數(shu)控(kong)機(ji)床、電子設(she)備(bei)、石材(cai)機(ji)械、玻(bo)璃機械、門窗機(ji)械、註塑機、機械手、起(qi)重運(yun)輸設備、自動化倉(cang)庫(ku)等。塑料(liao)尼龍拖(tuo)鏈的故(gu)障(zhang)檢測:
1、試探(tan)交換(huan):即(ji)在(zai)分(fen)析(xi)出故(gu)障(zhang)大(da)致(zhi)起(qi)因的情況(kuang)下(xia),塑料(liao)尼龍拖(tuo)鏈維(wei)修(xiu)人(ren)員可(ke)以利用備(bei)用(yong)的印(yin)刷(shua)電(dian)路(lu)板、集成(cheng)電(dian)路(lu)芯片(pian)或(huo)元(yuan)器件替(ti)換(huan)有(you)疑(yi)點(dian)的部(bu)分(fen),從(cong)而把(ba)塑料(liao)尼龍拖(tuo)鏈的故(gu)障(zhang)範圍縮小(xiao)到(dao)印(yin)刷(shua)線(xian)路(lu)板或(huo)芯片(pian)壹(yi)級(ji)。
2、參(can)數(shu)檢(jian)查:發(fa)生(sheng)故(gu)障(zhang)時(shi)應(ying)及(ji)時(shi)核對系(xi)統參數(shu),參(can)數(shu)壹(yi)般(ban)存放(fang)在磁泡存(cun)儲(chu)器或(huo)存(cun)放(fang)在需(xu)由(you)電(dian)池保持的CMOSRAM中(zhong),壹(yi)旦(dan)電(dian)池不足(zu)或(huo)由(you)於(yu)外(wai)界的幹擾(rao)等因(yin)素,使(shi)塑料(liao)尼龍拖(tuo)鏈的個別參(can)數(shu)丟失或(huo)變(bian)化,發(fa)生(sheng)混(hun)亂(luan),使機(ji)床(chuang)無(wu)法(fa)正常(chang)工(gong)作(zuo)。此時(shi),塑料(liao)尼龍拖(tuo)鏈可(ke)通(tong)過(guo)核對、修(xiu)正參(can)數(shu),將(jiang)故(gu)障(zhang)排除。
3、功能(neng)檢(jian)測(ce):功能(neng)程序(xu)測(ce)試(shi)法(fa)是將數(shu)控(kong)系(xi)統的G、M、S、T、F功能(neng)用編(bian)程法(fa)編成(cheng)壹(yi)個(ge)功(gong)能(neng)試(shi)驗(yan)程序(xu),並存儲(chu)在(zai)相應(ying)的介質上,如(ru)紙(zhi)帶(dai)和(he)磁帶等(deng)。在塑料(liao)尼龍拖(tuo)鏈的故(gu)障(zhang)診斷時(shi)運行(xing)這(zhe)個(ge)程序(xu),可(ke)快(kuai)速(su)判定故(gu)障(zhang)發(fa)生(sheng)的可能(neng)起(qi)因。
4、直觀(guan)檢(jian)查:是塑料(liao)尼龍拖(tuo)鏈維(wei)修(xiu)人(ren)員zui先(xian)使(shi)用(yong)的方法(fa),即塑料(liao)尼龍拖(tuo)鏈在(zai)故(gu)障(zhang)診斷時(shi),由(you)外(wai)向(xiang)內逐壹進(jin)行(xing)觀察(cha)檢查。要註意到(dao)的是是否有(you)缺件(jian)現象。
1、試探(tan)交換(huan):即(ji)在(zai)分(fen)析(xi)出故(gu)障(zhang)大(da)致(zhi)起(qi)因的情況(kuang)下(xia),塑料(liao)尼龍拖(tuo)鏈維(wei)修(xiu)人(ren)員可(ke)以利用備(bei)用(yong)的印(yin)刷(shua)電(dian)路(lu)板、集成(cheng)電(dian)路(lu)芯片(pian)或(huo)元(yuan)器件替(ti)換(huan)有(you)疑(yi)點(dian)的部(bu)分(fen),從(cong)而把(ba)塑料(liao)尼龍拖(tuo)鏈的故(gu)障(zhang)範圍縮小(xiao)到(dao)印(yin)刷(shua)線(xian)路(lu)板或(huo)芯片(pian)壹(yi)級(ji)。
2、參(can)數(shu)檢(jian)查:發(fa)生(sheng)故(gu)障(zhang)時(shi)應(ying)及(ji)時(shi)核對系(xi)統參數(shu),參(can)數(shu)壹(yi)般(ban)存放(fang)在磁泡存(cun)儲(chu)器或(huo)存(cun)放(fang)在需(xu)由(you)電(dian)池保持的CMOSRAM中(zhong),壹(yi)旦(dan)電(dian)池不足(zu)或(huo)由(you)於(yu)外(wai)界的幹擾(rao)等因(yin)素,使(shi)塑料(liao)尼龍拖(tuo)鏈的個別參(can)數(shu)丟失或(huo)變(bian)化,發(fa)生(sheng)混(hun)亂(luan),使機(ji)床(chuang)無(wu)法(fa)正常(chang)工(gong)作(zuo)。此時(shi),塑料(liao)尼龍拖(tuo)鏈可(ke)通(tong)過(guo)核對、修(xiu)正參(can)數(shu),將(jiang)故(gu)障(zhang)排除。
3、功能(neng)檢(jian)測(ce):功能(neng)程序(xu)測(ce)試(shi)法(fa)是將數(shu)控(kong)系(xi)統的G、M、S、T、F功能(neng)用編(bian)程法(fa)編成(cheng)壹(yi)個(ge)功(gong)能(neng)試(shi)驗(yan)程序(xu),並存儲(chu)在(zai)相應(ying)的介質上,如(ru)紙(zhi)帶(dai)和(he)磁帶等(deng)。在塑料(liao)尼龍拖(tuo)鏈的故(gu)障(zhang)診斷時(shi)運行(xing)這(zhe)個(ge)程序(xu),可(ke)快(kuai)速(su)判定故(gu)障(zhang)發(fa)生(sheng)的可能(neng)起(qi)因。
4、直觀(guan)檢(jian)查:是塑料(liao)尼龍拖(tuo)鏈維(wei)修(xiu)人(ren)員zui先(xian)使(shi)用(yong)的方法(fa),即塑料(liao)尼龍拖(tuo)鏈在(zai)故(gu)障(zhang)診斷時(shi),由(you)外(wai)向(xiang)內逐壹進(jin)行(xing)觀察(cha)檢查。要註意到(dao)的是是否有(you)缺件(jian)現象。
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